通過自動插入過孔減少 IR 和 EM 問題

                        上傳用戶:nakey 上傳日期:2021-11-01 文件類型:PDF
                        文件大小:578.62K 資料積分:0分 積分不夠怎么辦?
                      IR 壓降和 EM 問題會大幅減損先進工藝節點的性能和可靠性。添加過孔是最有效的校正手段,但傳統的自定義腳本不僅困難、耗時,而且無法保證設計即正確的過孔。Calibre YieldEnhancer PowerVia 實用工具使用制造要求自動插入無任何 DRC/LVS 錯誤的過孔。結果顯示,EM/IR 結果得到顯著改善,包括電流密度違規大幅減少。具體操作說明請下載附件查看!……

                      關鍵詞: siemens   mentor   EM   IR  

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